Scanneur piezo pour nanopositionnement en Z

Nano-positionneurs d'objectifs et de supports échantillons.


Nano-positionneur d'objectifs piezo-électriqueNano-positionneur d'objectifs piezo-électrique

  • Courses de 100 à 600µm
  • Systèmes boucle fermée digitale et boucle ouverte analogique
  • Versions avec capteurs de positionnement capacitif pour une meilleure résolution et une meilleure stabilité
  • Résolution et répétabilité nanométrique et sub-nanométriques
  • Modèle avec temps de stabilisation <10ms (charge de 150g, stabilisation 5% pas de 0,5µm)
  • Haute fréquence de résonance
  • Pour microscopes droits et inversés
  • Conception compacte, Facile à fixer sur les microscopes, Excellente durée de vie

Objectif PiezoNanopositionneur d'échantillon en Z

 

 

 

 

 

 

 

 

Nanopositionneur d'échantillon en Z

  • Courses 370 à 690µm en boucle ouverte, de 300 à 600µm en boucle fermée
  • Versions avec capteurs de positionnement capacitifs (CAP) pour une résolution de pointe
  • Résolution sub-nanométrique, répétabilité nanométrique
  • Modèle facilement combinable avec d’autres systèmes de nano et micro-positionnement (pour ouverture Frame K standard)
  • Modèle avec temps de stabilisation <10ms (charge de 200g, stabilisation 5% pas de 0,5µm)
  • Charges jusqu’à 500g (charges plus élevées sur demande)
  • Convient pour les supports multi-well standards
  • Particulièrement adapté à l’imagerie cellulaire, à la fluorescence confocale, aux applications de scan laser, d’imagerie 3D, d’analyse de surface ou encore d’inspection de wafers…

Platine Piezo en Z