Sylvain Martin

Fluorescence X de laboratoire

Spectromètres ED-XRF de Laboratoire avec cible secondaire.

Description

Spectromètres ED-XRF de Laboratoire avec cible secondaire EX-6600 SDD .

Notre Spectromètre de Laboratoire par Fluorescence X à dispersion d’énergie (ED-XRF) est une excellente solution pour permettre l'analyse élémentaire non destructive. Le Détecteur SDD (Silicon Drift Detector) diminue le bruit de fond et augmente le taux de comptage ce qui permet une résolution d'énergie plus élevées et des résultats plus rapides comparés aux détecteurs Si-Pin et détecteurs Si-Li.

Les modèles EX-6600 sont équipés de 8 cibles secondaires offrant une sensibilité maximale et une excellente quantification même dans le cas de matrices complexes tel que les alliages, les plastiques et les échantillons géologiques. Les cibles sont entièrement personnalisables et permettent d’atteindre des limites de détection sous la ppm pour la majorité des éléments.

La chambre d'analyse peut accueillir des échantillons de différentes formes et de différentes tailles ce qui confère à nos spectromètres de laboratoire une grande polyvalence, ainsi le même instrument pourra analyser des liquides, des solides, des paillettes, des poudres, des granulés et des filtres à air.

L'échantillonneur est composé de 10 ou 20 positions et a été conçu pour une utilisation quasi-automatique, sans surveillance lors de l’analyse.

Le spectromètre est robuste, rapide et facile à utiliser grâce au logiciel d'analyse intuitif.

L’acquisition multicanale fournit une résolution rapport crête à crête très élevée ce qui améliore d’autant plus la réponse du détecteur.

  • Analyse élémentaire Non-destructive du Carbone (6) au Fermium (100) depuis le ppb (partie par milliard) jusqu’aux concentrations maximales (100%)
  • Détecteur SDD (Silicon Drift Detector) s’adapte à toutes les applications, excellente résolution en énergie, propice pour l’analyse des éléments légers et les éléments avec nombre de masse élevé.
  • Détecteur SDD LE (Light Element) encore plus performant pour l’analyse des éléments légers
  • Technologie WAG ® (wide angle geometry) breveté – Géometrie Grand Angle Technologie Optique à Rayon X pouvant atteindre une puissance d’excitation de 300W permet une analyse élémentaire puissante et rapide ce qui convient exactement aux contraintes des laboratoires de recherche ou de production
  • Huit (8) filtres personnalisables et cibles secondaires augmentant rapidité et précision et facilitant la détermination des éléments mineurs et éléments traces
  • Facile à utiliser et intuitif grâce au logiciel nEXt™ développé en interne et compatible avec votre système d’exploitation

Applications: Mines & Minéraux ; Métallurgie ; Environnement ; Pétrochimie ; Recherche Universitaire.


Site internet du fabricant
http://www.xenemetrix.fr