AFM_SPM_Raman_IR_TERS et solutions combinées

Plateforme modulaire d'analyse topologique et spectrométrique à l'échelle nanométrique


Description

NTEGRA est un concept innovant utilisant une plateforme commune de SPM pour adresser divers besoins d'analyse ou de préparation d'échantillons à l'échelle nanométrique. Toutes les technologies partagent méthode de positionnement, électronique et logiciel de traitement de données et y ajoutent leurs spécificités (tomographie AFM, spectroscopie Raman, nanoIR, SNOM, TERS, reconstruction 3D ...). Cette approche modulaire permet de combiner plusieurs techniques de mesure au sein d'un même instrument, de faciliter la conception d'un système adapté à chaque besoin spécifique, et d'obtenir des performances haut de gamme à un prix très compétitif.


Site internet du fabricant
http://www.spectrum-instr.com/